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很多方法都可以用來測量薄膜的厚度。這些方法中,紫外可見分光光度計提供了簡便的、對薄膜厚度不造成損害的測量方式。
對矽片上兩個不同厚度的光阻層(0.5 µm, 3.0 µm)進行測量。結果發現,薄膜越薄,波的周期越長,反之亦然。
紫外可見分光光度計
允許對所有種類的薄膜進行簡易的並且不造成薄膜厚度損害的測量。從薄膜的前後表麵反射出的光相互交叉形成一個幹涉圖。在一定波長範圍內,薄膜的厚度可通過光譜上波的數量計算得到(在物質的折射率已知的情況下)。
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